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论文概述

  本文题目 Automated Generation of RAL-based UVM Sequences，作者是 Intel 的加拿大工程师。

  本文提出了一种 基于RAL（寄存器抽象层）的UVM Sequence自动生成 方法，并探讨了 通过划分TB约束范围来加速仿真 的问题。

研究目的

  通常而言，我们通过配置一组寄存器来控制 DUT 的硬件行为，以使 DUT 工作在某一 feature 下。对于不同的 feature，配置的寄存器以及配置寄存器的顺序或有不同。目前，比较常用的配置寄存器的方法是采用 UVM RAL Model 来配置 DUT 寄存器。这就意味着：我们要针对每一个feature制定一个programming sequence，并coding 成uvm sequence。

  想必各位DV同学在验证过程中遇到过这些情况：feature太多了，feature又变了，programming sequence又变了，寄存器又变了 …… 手动写、手动改，手都麻了，直让人骂娘。

  怎么办？自动化！用脚本实现自动化！

新方法

  本文提出了一种 从设计文档自动生成基于RAL的UVM Sequence的方法 ，并探讨了 通过划分TB约束范围来加速仿真 的问题。图1是脚本生成UVM sequence的UVM 测试框架。

图1 Modified UVM test framework integrated with the RAL and UVM sequence auto-generation scripts

  该方法的主体思路总结如下：

1. 标准设计文档。写一份特定格式的设计spec，要求机器可读。该文档中需包含两个重要子spec，其一是寄存器spec，其二是各个feature的programming sequence spec。
2. 解析脚本。用脚本自动解析该文档，自动生成uvm sequence和ral sequence。
3. 每次更新设计文档，重新解析一次重新生成相关sequence即可。

  以上方法中，有几个地方我重点解释一下：

1. 设计文档中的programming sequence设计为有向无环图的状态机形式，便于脚本正确生成对应uvm sequence。
2. 为了提高coverage，这需要对RAL Model的寄存器值进行大范围随机。在较大的设计中，但考虑到寄存器间或许存在依赖关系，仅靠ral自己随机或手动在ral内添加随机约束均不太现实，ral model全部寄存器随机约束很复杂，解约束耗时久。而且不同feature下ral model的随机方案也不同。在本文自动生成环境中，是怎么实现的呢?——针对用config_db，每一个feature的test的uvm sequence都对应一个特定的config_db，在test里set给ral sequence，且只随机我们在验证的block相关的寄存器，以此来减小解随即约束的时间（就是前边说的加速仿真），也能过防止随机出预期外的错误结果。

讨论

  这个方法好，DV再也不怕设计文档变化啦！

  方法是好方法，但实话说，本文所用的自动生成test sequence的概念并不是很新，成熟点的公司都有类似的脚本吧。

  真正要把这方法用起来，需要DE同学在写设计spec的时候规范一点。尤其是programming sequence，每个寄存器怎么配、配多少，都要写得清清楚楚。这么多feature …… 这个方法解放了DV，苦了DE啊，估计DE要骂娘了。DE不写DV愿意写也行，谁都不写的话，这方法也用不起来。

完

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